Schichtdickenmessgerät mit integriertem und Kabel-Sensor
Artikel-Nr. 3676
byko-test 9500 Basic
Basis Trockenschichtdicken Messgerät Fe/NFe-Substrate mit festem und Kabel-Sensor
- Für Messungen auf ferromagnetischen und nicht-ferromagnetischen Substraten
- Gesamtspeicher von 10.000 Messwerten
- IP 65 Staub- und Spritzwasserschutz
- USB-Verbindung und PC-Software
- Inklusive ISO 17025-Zertifikat
Features
Das byko-test 9500 Schichtdickenmessgerät ist modular aufgebaut, um ein breites Anwendungsspektrum sicherzustellen.
- Einfach zu bedienendes UI
- Temperaturkompensation direkt im Sensor
- Präzise Messungen auch bei krummen und kleinen Teilen
- Einfache Einstellung auf rauen, glatten oder gekrümmten Untergründen
- 61mm (2,4") Farbdisplay, resistent gegen Kratzer und Chemikalien (Stufe H6)
- Edelstahlsonde mit Staubschutzmembran (IP65)
- Optimale Ablesbarkeit des Flip-Displays auch bei direkter Sonneneinstrahlung, Helligkeit kann automatisch oder manuell eingestellt werden
- Intuitive Menüführung für das Messgerät und die Software, Protokollierung mit 3 Klicks
- Frei belegbare Taste für individuellen Schnellzugriff
- Einfache und schnelle Erstellung von Dokumentationen und Berichten
- Mehrsprachlich
- Zwei Kalibrierfolien mit einer Schichtdicke von 49,5 µm (1,95 mils) und 247 µm (9,72 mils) im Lieferumfang enthalten
Technische Eigenschaften
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- Measuring Range Mils / µm
- 0 - 118 mil 0 - 3,000 µm
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- Full Scale Calibration Range Mils/ µm
- -
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- Measuring Range
- 0 - 3000 µm
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- Measuring Range
- 0 - 118 mil
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- Accuracy
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Fe: 0-2000µm: ± (1 μm + 2 %)
NFe: 0-2000µm: ± (2 μm + 2 %)
Fe & NFe > 2000µm ± 3 %
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- Measuring area, min.
- 14.5 mm ø
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- Measuring area, min.
- 0.6 in ø
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- Minimum Curvature
- Fe (NFe) convex: 4 mm (30mm) with 2-point-adjustment, zero and 250 μm on original substrate 6 mm (50 mm) with zero adjustment on original substrate
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- Minimum Curvature
- Fe (NFe) convex: 0.16 in (1.2 in) with 2-point-adjustment, zero and 9 mils on original substrate 0.24 in (2 in) with zero adjustment on original substrate
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- Minimum substrate thickness
- Fe (NFe) 25 μm (20 µm) with 2-point-adjustment, zero and 250 μm on original substrate 100 μm (50 µm) with zero adjustment on original substrate
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- Minimum substrate thickness
- Fe (NFe) 1 mil (0.8 mils) with 2-point-adjustment, zero and 9 mils on original substrate 4 mils (2 mils) with zero adjustment on original substrate
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- Auflösung
- Adjustable: 0,1 µm (0,1 mils) or 0,01 µm (0,01 mils)
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- Interface
- USB
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- Power supply
- 2 x AA Batteries 1.5 V Alkali, or rechargeable AA 1.2 V
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- Weight
- 0.27 kg
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- Operating temperature
- -20 - 70 °C
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- Storing temperature
- -20 - 70 °C
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- Operating temperature
- -4 - 158 °F
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- Storing temperature
- -4 - 158 °F
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- Dimensions: L x W x H
- 16 x 6.8 x 3.8 cm
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- Dimensions: L x W x H
- 6.3 x 2.7 x 1.5 in
Technical Specifications
Thickness Measurement
General
Normen
Lieferumfang
byko-test 9500 Basic ohne Sonde
Dualsonde 3mm für byko-test 9500, ISO 17025 (3678)
Verlängerungskabel für 5500/9500 Schichtdickenmessgerät (15077)
Fe/NFe Nullplatte mit 2 Folien (15078)
2 Mignonbatterien 1,5 V (AA) alkaline
Zertifikat
Bedienungsanleitung
Dualsonde 3mm für byko-test 9500, ISO 17025 (3678)
Verlängerungskabel für 5500/9500 Schichtdickenmessgerät (15077)
Fe/NFe Nullplatte mit 2 Folien (15078)
2 Mignonbatterien 1,5 V (AA) alkaline
Zertifikat
Bedienungsanleitung
Downloads
Produktbroschüre
Sicherheitshinweise
Kurzbedienungsanleitung
Wissen
Schichtdicke
Für alle an eine Beschichtung geknüpften Anforderungen gibt es eine optimale Schichtdicke, um einen guten Verlauf und Glanz, eine optimale Farbgebung und Deckkraft wie auch eine gute Schutzwirkung gegenüber Umwelteinflüssen und Korrosion zu gewährleisten. Bei zu hoher Schichtdicke verschlechtern sich mechanisch-technologische Eigenschaften wie zum Beispiel Dornbiegeprüfungen, Steinschlagtest und Kugelschlagprüfungen und auch die Wirtschaftlichkeit des Lackierprozesses nimmt ab. Deswegen werden Schichtdicken vom Lacklieferanten und der Qualitätssicherung ausgearbeitet und vorgegeben. Diese müssen regelmäßig kontrolliert und dokumentiert werden.
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